技术文章您现在的位置:首页 > 技术文章 > 影响涂层测厚仪测量值精度因素和应用领域
影响涂层测厚仪测量值精度因素和应用领域
发布时间:2021-10-23   点击次数:30次
  影响涂层测厚仪测量值精度因素和应用领域
  涂层测仪除了可以测量磁性金属基体和非磁性基体上的涂层,亦可以测量金属电镀的镀层测厚仪,因此,涂层测厚仪,通常也称为涂镀层测厚仪。
  涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:
  1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢铁银镍.此种方法测量精度高
  2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度低
  3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵测量精度也不高.
  4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦
  5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合.
  国内目前使用最为普遍的是第1、2两种方法
  常规涂层测厚仪的原理
  对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。
  覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。
  覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
  X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
  随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
深圳市天瑞仪器有限公司

深圳市天瑞仪器有限公司

地址:深圳市宝安区松岗镇宝安桃花源松岗创新分园琦丰达大厦22层,江苏省昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园

主营产品:天瑞ROHS检测仪,ROHS2.0分析仪,XRF检测设备,领苯检测仪,ROHS10项检测仪

©2019 版权所有:深圳市天瑞仪器有限公司  备案号:  总访问量:40729  站点地图  技术支持:化工仪器网  管理登陆

QQ在线客服
联系方式

13632781600