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X射线无损镀层测厚仪原理
更新时间:2023-04-25   点击次数:471次

X射线无损镀层测厚仪:能量X荧光光谱侧厚法(质量膜厚)

测试原理:X射线无损镀层测厚仪是通过X射线激发各种物质(如Mo、Ag、Mn)的特征X射线,然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性,测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度,这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加,厚度值也增加,但不是直线关系;通过标样和软件及算法(算法有FP法和经验系数法)得到一个接近实际对应关系的曲线.45.jpg

X射线无损镀层测厚仪器特点 

1、镀层分析快速、无损,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10秒~3分钟,分析高。

    X射线无损镀层测厚仪是光物理测量,其对测试样品不会产生任何的物理、化学变化,因此,其属于无损测量。同时对测试的样品不需要任何处理,分析速度更加快捷。

2、可测试超薄镀层,如:在测试镀金产品时,可测试0.01米的镀层厚度,这是其他测厚设备无法达到的。

     X荧光通过射线的方式来检测镀层的厚度,因此,其对样品的表面物质测试为灵敏,因此,其非常适合测试超薄镀层,也是目前超薄镀层常用的测量方法。

3、可测试多镀层,分析远远高于其他测量方法。

X射线具有一定的穿透能力,因此,在测试镀层时,它可以穿透多层镀层,通过每层镀层产生的特征X射线计算其厚度,并可分析其镀层的组成。

4、可分析合金镀层厚度和成分比,这是其他测厚设备不能做到的。   

5、对于样品可进行连续多点测量,适合分析镀层的厚度分布情况并可以对样品的复杂面进行测量。

    由于X荧光的无损分析方法,同时仪器高度的自动化控制技术,保证测试中可以进行连续多点测量,不但提高测试效率,同时可以分析测试样的厚度分布情况。

6、对分析的多镀层每层之间的材料,要求有明显的区别,即,每层样品元素有明显的差别。

     由于X荧光是通过特征X射线,对被测样品进行厚度分析的,因此每层镀层的材料应有明显的区别。

7、不可以测试超厚样品,普通金属镀层总厚度一般不超过30微米。根据各种元素的能量不同,测量范围都不相同. 

8、可以对极小样品进行测试,例如:螺丝、电路板焊盘、接插件的插针等。可以将X射线照射在样品的光斑调到很小的地步(可以达到微米级,因此,超小样品的测试非常容易。

9、属于对比分析仪器,测试不同的镀层样品需要不同的镀层标样,虽然有FP法的测试软件,但在精准测试中,一定需要标准样品进行校对,因此,企业应用中采用标样校对的方法是常见的。

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天瑞Thick800AX荧光镀层测厚仪

仪器介绍

Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

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深圳市天瑞仪器有限公司

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