天瑞EDX600PLUS是江苏天瑞仪器股份有限公司推出的下照式能量色散X射线荧光（EDXRF）镀层厚度分析仪，主打无损、快速、高精度测量金属镀层（单层/多层及合金镀层），适用于电子电器、五金卫浴、光伏、汽车、航空航天等行业。‌‌

• ‌核心原理‌：采用EDXRF技术，无需液氮、无需样品前处理，通过测量镀层元素特征X射线荧光强度计算厚度（范围通常≥0.01μm，视材料而定），最多支持5层镀层分析。

• ‌关键配置‌：微焦斑X光管、高分辨率SDD电制冷探测器、可选配‌最小0.1×0.3mm准直器‌、高分辨率可变焦双摄像头（全景+局部）+距离补正算法，实现异型面（螺纹、曲面、深槽）精准定位。

• ‌操作特点‌：‌下照式设计‌+一键测试+软件自动对焦与XY/Z平台微调，支持标准片校准与EFP算法拟合；软件界面中文友好，具备自动校验、重复测试（RSD<3%）、数据导出（Excel/PDF）及批量编程功能。

• ‌典型应用‌：Au/Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Pd等多层镀层测厚；RoHS有害元素筛查（如Pb、Cd、Hg）；电镀液金属离子浓度估算（需配套标液）。

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