内置 X 射线管发射初级 X 射线，激发镀层、基底原子产生特征荧光；
Si-PIN 高分辨率探测器采集荧光信号，区分多层金属特征谱线；
搭载基体效应校正、多变量非线性算法，结合标准箔片校准，换算镀层精准厚度；
支持单层～五层复合镀层分层独立测算，自动区分基底与各镀层材质。
探测器：原装 Si-PIN 电制冷探测器，能量分辨率≤149eV，微弱荧光识别精度高；
X 光管：天瑞定制铜靶 X 射线管，管压 5~50kV、管流 0~1000μA，功率稳定；
准直器：标配φ0.1mm 微小光斑准直孔，最小测试光斑 0.2mm，适配芯片引脚、微型触点极小点位检测。
精密二维电动样品台 + X 射线管 / 探测器垂直升降，实现三维全域移动；
重复定位精度＜0.005mm，双激光视觉定位，鼠标点击画面即可锁定测试点位；
高度自动感应传感器，凹凸曲面工件自动对焦，避免高度偏差带来检测误差。
全封闭铅玻璃屏蔽舱，舱门联锁安全保护，仅舱体闭合才触发 X 射线；
开放式大样品腔：内腔 500×350×140mm，可放置大尺寸五金、PCB 整板、结构件；
整机尺寸：576×495×545mm，整机净重 90kg，台式实验室稳定机型
