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X荧光测厚仪 Thick800a

更新时间:2019-12-17

简要描述:

X荧光测厚仪 Thick800a的工作原理是利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。

  • 企业类型:制造商
  • 新旧程度:全新
  • 原产地:江苏省苏州昆山市中华园西路1888号
  • 测试平台:精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
  • 探测器:Si-Pin探测器
  • 工作原理:利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
  • 准直器大小:φ0.1mm的小孔准直器
  • 温度要求:15℃至30℃。
  • 电源:交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
  • 外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm

X荧光测厚仪 Thick800a性能优势

可靠性高:

由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。

满足不同需求:

:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。

快速:

1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。

无损:

测试前后,样品无任何形式的变化。

直观:

实时谱图,可直观显示产品测试点

简易:

对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。

性价比高:

相比其他类类仪器,X光测厚仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。

 

应用领域

X光测厚仪主要针对金属镀层(镀金,镀镍,镀锡,镀锌,镀铜,镀银,镀铑,镀钯等)厚度测试,广泛应用于线路板、五金工具,汽车配件,电子连接器,高压开关,卫浴等企业中,得到了客户的广泛应用和认可。

技术参数

 

重量:90 kg

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

长期工作稳定性高

度适应范围为15℃至30℃

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层

一次可同时分析多达五层镀层

zui薄可测试0.005μm

分析含量一般为2ppm到99.9%

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm

 

X荧光测厚仪 Thick800a的工作原理是利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。

 

  

X光测厚仪清晰明了,简单易学,备受客户青睐。

            

 

检测实例

 

以下使用Thick800AX光测厚仪对铜镀镍样品实际检测Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行精确定位测试,其测试位置如图。

 

样 品 名

成分Ni(%)

镀层Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

100

18.846

吊扣4#

100

19.302

吊扣5#

100

18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

标准偏差

0

0.273409

相对标准偏差

0

1.425257

 X光测厚仪用于镀层行业的一款镀层测厚仪仪器,关系到产品的质量以及生产成本,(例如:镀层厚度超过了电镀的标准,尤其对贵金属银、金等,将会大大提产品的成本,从而失去市场竞争力),天瑞仪器生产的THICK800AX光测厚仪配备移动平台,可全自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加精准,实现“傻瓜”式操作,产品型号thick800aX光测厚仪,该产品适合用于电镀金,银,铜,镍,锡,铬,锌,以及合金层厚度分析,zui多同时分析5层镀层,zui薄分析至0.005微米。

 

厂家介绍

 江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本46176万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。   

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