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天瑞X-ray荧光镀层测厚仪Thick800A

更新时间:2021-07-01

简要描述:

天瑞X-ray荧光镀层测厚仪Thick800A主要用于金属镀层厚度测试,铜镀银厚度,镀锌层测厚

天瑞X-ray荧光镀层测厚仪Thick800A产品介绍:

江苏天瑞仪器生产的Thick800A深受需求行业的欢迎,在使用上具有很好的性能,主要用于金属镀层厚度测试,铜镀银厚度,镀锌层测厚。我们一直秉承“为客户创造价值”的宗旨,坚持“全力以赴,客户至上”的工作准则,确保为客户提供产品和的解决方案。

 

天瑞X-ray荧光镀层测厚仪Thick800A技术参数:

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

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深圳市天瑞仪器有限公司

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